Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
Elemento
- Título (dcterms:title)
- Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
- Autores (dcterms:creator)
- Tan
- Año Publicación (dcterms:date)
- 2013
- Editorial (dcterms:publisher)
- Springer Singapore
- ISBN (bibo:isbn)
- 978-981-4451-20-8
- eBook (bibo:isbn13)
- 978-981-4451-21-5
- PDF (bibo:uri)
- https://cutt.ly/9koE0rA
- EPUB (foaf:workInfoHomepage)
- https://cutt.ly/0koAHgr
- Colecciones
- Springer