Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Elemento
- Título (dcterms:title)
- Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
- Autores (dcterms:creator)
- Maricau
- Año Publicación (dcterms:date)
- 2013
- Editorial (dcterms:publisher)
- Springer New York
- ISBN (bibo:isbn)
- 978-1-4614-6162-3
- eBook (bibo:isbn13)
- 978-1-4614-6163-0
- PDF (bibo:uri)
- https://cutt.ly/xhdA1O0
- EPUB (foaf:workInfoHomepage)
- https://cutt.ly/shdA7IM
- Colecciones
- Springer