Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Elemento

Título (dcterms:title)

Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Autores (dcterms:creator)

Maricau

Año Publicación (dcterms:date)

2013

Editorial (dcterms:publisher)

Springer New York

ISBN (bibo:isbn)

978-1-4614-6162-3

eBook (bibo:isbn13)

978-1-4614-6163-0

PDF (bibo:uri)

https://cutt.ly/xhdA1O0

EPUB (foaf:workInfoHomepage)

https://cutt.ly/shdA7IM

Colecciones

Springer

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